川口工場に蛍光X線膜圧測定装置を導入いたしました。

蛍光X線膜厚計は、品質を保証するためにも重要な設備です。
また非接触、非破壊で簡単に膜厚の測定ができます。

めっき膜厚の測定について

めっきの膜厚は、仕様としてお客様から指示される内容の一つです。
膜厚の測定はめっきのコントロール、品質保証の上で重要な作業です。

めっきの膜厚の測定方法には、顕微鏡断面試験、電解式試験、渦電流式試験、磁力式試験、
蛍光X線試験等の測定方法があります。
この中で蛍光X線膜圧計による試験は非破壊で測定が可能です。

めっき膜厚について


X線の性質上、めっき厚が厚いと下地までX線が透過しないため、測定ができない場合があります。
また素材とめっきが同素材や似た金属同士の場合は測定不可となります。
例：銅素材に銅めっき

表面から20μｍ程度までは、ある程度正確に測れますが、トータルの厚さがそれ以上になると、精度が落ちる又は測定不可となります。
測定できる厚さは、構成されている金属や蛍光X線膜厚計のX線管球の劣化の状況により異なります。
また、めっき皮膜が検量線を作成した標準箔よりも薄い場合も薄くなればなるほど不正確になってきます。